SHF帯(~30GHz)における複素透磁率計測技術
掲載日 2019年4月26日
発表者 直江正幸
雑誌名等 まぐね, Vol. 14, No. 1, p.p. 12-19(2019)
概要 本稿では、伝送線路を用いたSHF帯(~30GHz)を含む磁性材料の複素透磁率を正しく測定するための理論、実験例、および今後の課題について解説している。具体的には、反射法と透過法の両方を検討し、実験結果を分析するために集中定数近似もしくは分布定数近似を用い、実効透磁率を補正するゼロ点補正にはField法もしくはRemove法を使用した。反射法の一種である、短絡マイクロストリップ線路法においては、短絡同軸線路を用いて得られた結果として比較して、より良好に反磁界補正することができることも示した。